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电子元器件失效分析基础

时间:2020-09-17 21:44

失效分析(Failure Analysis)是对已失效的器件进行的一种事后检查。根据需要,使用电测试以及显微形貌分析、结构分析、物理性能探测、微成分分析等一系列分析手段,确定其失效模式,找出失效机理,定义其失效原因。本文主要介绍失效分析的一些概念及失效分析的部分分析手段。

 
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